左侧视轴系统改为轴对准系统

轴对准是单一系统光轴校准或者是一系列光学或者光电系统的的参考光轴或机械轴校准。更好的轴校准在由一系列系统组成如红外热像仪,可见光/近红外相机,短波红外相机,激光测距机,激光指示器等组成的光电多传感器监控系统中起着重要的作用。  


多传感器光电系统是轴对准最难的情况。 因此,本节中的术语“轴对准”是指用于多传感器光电系统的基础测试与轴对准测试。 双目夜视装置和激光测距仪的轴对准需要使用单独的测试系统。 Inframet提供三个主要的测试系统用于光电系统的基础测试与轴对准测试:JT测试系统,JAT测试系统和JIMS测试系统。

 

图1. JT400轴对准测试系统

 

图2. JAT200轴对准测试系统

 

图3. JIMS轴对准测试系统

 

 

JT测试系统是模块化的准通用测试系统,可以扩展到轴对准和多传感器光电系统的基本参数测试。 这些测试系统通常是实验室/仓库环境应用级别。 Inframet的一些客户建立了特殊的平台,可以运输这些系统,并在实验室外进行测试。 但是,这种情况是规则的一个例外。
JAT测试系统可以认为是一个特殊的可移动轴校准测试系统最优化设计于测试多传感器光电系统在野外环境。JAT测试系统是一个紧凑的,轻量化的测试系统用于轴对准测试以及多传感器光电系统基础测试。其次,该测试系统可以最优化设计于支持不同尺寸光学传感器的多传感器光电系统。以上的这些功能描述使得JAT测试系统适用于多传感器光电系统在执行重要命令之前的测试及维修。
JIMS测试系统可以作为JT测试系统的特殊版本,最优化适用于测试光学口径超过1000mm的光电系统。对于水平方向布局的光电系统测试是一套近乎完美的方案。然而,需要注意的是JIMS测试系统的测试精度比典型的JT测试系统略差。

当测试具有位于大型水平平台上的EO传感器的EO系统时,这是一个近乎完美的解决方案。 但是,应该注意的是,与使用典型JT站的视轴精度相比,使用JIMS站的视轴精度略差。

 

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