教育

关于光电监视系统(红外热成像仪,夜视设备,VIS-NIR相机,SWIR成像仪,激光测距仪,激光指示仪,多传感器系统,融合图像系统,UV相机,光学瞄准器等)和主要模块(图像增强器,IR FPA / CCD / CMOS成像探测器,光学物镜)的文献很多。 然而,基于大尺寸光电技术的发展,非标准化专业术语的存在,国际上数十个测试标准的不清晰性推荐,宽泛的不标准领域以及市场上无数的测试系统商品的供应等因素,导致掌握光电计量技术,即使是初级的技术也是相对困难的。

接下来更令人惊讶的是,即使对于光电测试专家来说,测试监控光电系统也很困难。尽管过去十年中用于测试光电监视系统的设备取得了重大进展(现代测试系统越来越计算机化并采用先进的图像处理且在测试过程中提供软件支持),单光电系统参数测量的准确性仍要比单位SI系统中列出的物理量的测量精度低得多。在测试相同设备时,不同的测试测试产生略微不同的结果是很常见的。甚至可能发生两个测试团队在使用相同的测试设备在同一测试系统上进行测试工作时会产生不同的结果。光电技术的快速发展,标准化不足,计量基础设施有限,某些测量的主观性质,物理定律的基本限制,招标规则和人工智能的进步是造成这种情况的主要因素。

Inframet是光电测试系统的设备制造商。 但是我们也相信与同行的合作关系以及与客户的合作,我们有责任分享我们在光电计量方面的专业知识。 接下来,具有光电计量知识的客户可以更有效地使用我们的测试系统。 由于科学开放与商业的结合,Inframet决定在其网站上创建教育部分,其中可以找到一系列与光电计量相关的书籍,科学论文和其他材料。 我们希望本节能够帮助读者更好地理解测试光电监视系统的复杂世界。