IR FPA传感器

Inframet为IR FPA传感器的制造商和用户提供三种主要产品:

  1. FT测试系统
  2. MIRAD辐照器
  3. SPOT测试系统。 

FT测试系统是一个交钥匙系统,FT测试系统的基本原理是红外光源产生的精确控制的红外辐射到被测试红外焦平面探测器,通过控制被测试的红外焦平面探测器进而对输出信号进行半自动的分析来计算得到红外焦平面探测器的重要参数,FT测试系统支持测试红外焦平面探测器一系列的重要参数(噪声/灵敏度,像质以及光谱参数)

FT测试系统的FT-N1配置(静态充满模式下噪声/响应度参数的测量)

FT测试系统的FT-I配置(图像质量参数的测试)

FT测试系统可以提供一系列版本,针对热像仪核心和IR FPA传感器的不同测试范围进行了优化。 接下来,我们的测试系统也可以选择以扩展版本交付,用于测试完整的热成像仪。

MIRAD辐照器   SPOT测试站
   

MIRAD辐照器是一个红外辐照器,可以认为是整套用于生产长波红外/中波红外成像传感器的半导体圆晶测试设备中的一个模块。更细化的讲,MIRAD可以用作代替Teradyne Inc公司生产的IP750成像测试系统中的IA-OPT385WL辐照器(工作在可见光-近红外波段);另一方面,MIRAD辐照器是一个可调节亮度及高均匀性的中长波红外辐照器用于照射被测试的圆晶。MIRAD也可以用于其他市场上测试半导体圆晶的测试设备的辐照器。

SPOT test station enables direct measurement of spatial responsivity distribution function of raw MWIR FPA sensors and indirect accurate measurement of Modulation Transfer Function and cross-talk of these imaging sensors. In this way SPOT delivers valuable information about performance of raw MWIR FPA sensors.  From designer point of view SPOT is a scanning light spot projector that projects ultra small light spot on surface of tested MWIR FPA combined with electronic system that measures output signal generated by a single active pixel of tested FPA.

SPOT测试系统可以直接测量裸MWIR FPA探测器的空间响应度分布函数,并可以间接精确测量这些成像探测器的调制传递函数和串扰。 通过这种方式,SPOT可以得到有关原始MWIR FPA探测器性能的宝贵信息。 从奔逃测试系统设计师的角度来看,SPOT测试系统是一款通过投影超小光斑到被测试的MWIR FPA的焦平面上的投影系统,并通过耦合的电路系统用于测试FPA单一像素的输出信号。

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